Главная / Справочное пособие по ремонту приборов и регуляторов / Ремонт деталей теплоизмерительных и электроизмерительных приборов / Ремонт электрорадиотехнических деталей / Повреждения полевых транзисторов

Повреждения полевых транзисторов


Для снятия статического электричества используют заземленные браслеты.

Повреждения полевых транзисторов в результате воздействия статического электричества могут вызвать полный отказ (короткое замыкание между затвором и электродами стока и истока, обрыв цепи любого электрода) или частичную утрату их работоспособности в виде ухудшения электрических параметров (возрастание тока затвора на один-три порядка, уменьшение тока стока и крутизны характеристики, увеличение порогового напряжения). Последняя группа повреждений проявляется как результат нарушения структуры прибора: образование локальных областей пробоя, перегорание дорожек металлизации.

Для пайки используют специальный паяльник мощностью не более 40 Вт и напряжением питания 12 В, с температурой жала не выше 200 °С и диаметром жала 1,5…2,0 мм. Длина подпаиваемого вывода должна составлять не менее 10 мм, причем для отвода теплоты вывод следует обжимать пинцетом, круглогубцами или плоскогубцами. Время пайки должно быть минимальным.

Выявление неполадок интегральных микросхем. Наиболее часто интегральные микросхемы отказывают в работе по причине обрыва в соединениях микроэлементов и выводов. Диаметр соединительных проводов микроэлементов составляет всего сотые доли миллиметра, и провода легко разрушаются при ничтожном перегреве. Отпаянная микросхема не может быть установлена вновь, даже если проведенная проверка показала, что она исправна, так как заводы-изготовители микросхем не гарантируют их безотказной работы в результате повторного нагрева проводов.

Единственно бесспорным критерием, указывающим на необходимость замены интегральной микросхемы, является отсутствие импульсных напряжений хотя бы на одном из ее выводов при полном соответствии номинальным напряжений на остальных выводах. Отсюда следует, что выявление неполадок микросхем осуществляют, измеряя осциллографом постоянные и импульсные напряжения на их выводах. Отсчет выводов микросхемы производят со стороны монтажа в направлении против часовой стрелки от имеющейся точки на корпусе микросхемы. На печатной плате отсчет ведут по часовой стрелке от маркировки, помеченной цифрой «1».

Исправность аналоговых интегральных микросхем определяют по коэффициенту усиления, входному току и напряжению смещения нуля при помощи испытателя интегральных микросхем Л2-47.

Для выявления неполадок микросхем нельзя применять ампервольтомметр.


«Справочное пособие по ремонту приборов и регуляторов»,
А.А.Смирнов